宇時UM-4DL超聲波測厚儀的詳細(xì)資料：

宇時UM-4DL超聲波測厚儀穿透涂層大容量

宇時UM-4DL超聲波測厚儀穿透涂層大容量的產(chǎn)品特點(diǎn)：

包含UM-4D的所有特性，增加大容量數(shù)據(jù)記錄器（可存儲10萬個厚度值），隨機(jī)包含通訊軟件及USB通訊電纜，標(biāo)配TC510穿透涂層探頭。

1.同檔產(chǎn)品中*采用清晰亮麗的OLED真彩屏：

對比度10000：1，是TFT彩色液晶屏的40倍；分辨率320*240，是同檔產(chǎn)品的9倍以上。

2.更快的測量更新率：

更新率4Hz、8Hz、16Hz可調(diào)；普通的應(yīng)用可選擇4Hz，當(dāng)需要快速掃查時可選更高的更新率。

3.創(chuàng)新的A掃描快照功能，標(biāo)志著經(jīng)濟(jì)型測厚儀進(jìn)入全數(shù)字時代：

UM-4DL在同檔產(chǎn)品中提供A掃描快照波形顯示功能，超聲波不再是看不見摸不著的抽象概念，用戶在屏幕上可直接看到超聲信號波形，用于驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確、分析出現(xiàn)問題的原因、幫助用戶找到解決問題的辦法。

4.具有穿透涂層功能，不再需要費(fèi)時費(fèi)力的去除涂層工作了：

我們之前在國內(nèi)推出了具有穿透涂層技術(shù)的UM-1D測厚儀，現(xiàn)在UM-4DL同樣具備了這一*的功能。該功能是通過測量基材的兩個連續(xù)底面回波實(shí)現(xiàn)的。該模式下還具有更多的優(yōu)勢：免零點(diǎn)校準(zhǔn)；高穩(wěn)定性，測量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響；零漂移。

更大的存儲器、更方便的存儲功能：

5.可存儲100000個厚度值，是同檔產(chǎn)品的20至200倍；

國內(nèi)采用柵格式存儲文件，一屏可顯示15個厚度值，并同時顯示其在柵格中的位置，便于用戶瀏覽所存的厚度數(shù)據(jù)；

USB 2.0 全速(Full Speed)接口，功能強(qiáng)大的DataView數(shù)據(jù)統(tǒng)計及管理軟件。

6.業(yè)界經(jīng)濟(jì)型全數(shù)字測厚儀：

全數(shù)字測厚儀需要把模擬的超聲波信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號，然后對數(shù)字信號進(jìn)行運(yùn)算處理，zui終獲得高性能的厚度測量能力。UM-4DL的過零測量技術(shù)、高分辨力、A掃描快照功能都是以全數(shù)字技術(shù)為基礎(chǔ)的。

7.同檔產(chǎn)品中*真正達(dá)到0.01mm分辨能力的超聲波測厚儀：

一般超聲波測厚儀的顯示分辨率通常是0.01mm，但真實(shí)的分辨能力很難達(dá)到0.01mm。普通測厚儀電 路內(nèi)的定時計數(shù)器一般在30MHz以下，真正的硬件分辨力勉強(qiáng)只能到0.1mm，通過把多次測量結(jié)果取平均值的方法，模擬0.01mm變化的顯示效果，其實(shí)這樣并不能有效提高真實(shí)的分辨力，反而造成示值不穩(wěn)定的現(xiàn)象。UM-4DL超聲波測厚儀采用突破性的全數(shù)字技術(shù)及特殊的算法，其真實(shí)分辨力可達(dá)到0.01mm，實(shí)驗(yàn)證明可輕松分辨出厚度只相差0.01mm的兩個試塊。

8.采用突破性的過零測量技術(shù)：

以全數(shù)字技術(shù)為基礎(chǔ)，采用過零測量技術(shù)，厚度測量值不受回波強(qiáng)度、材料衰減系數(shù)、增益和閘門高度的影響，具有高測量穩(wěn)定性和可靠性。

9.更多實(shí)用的功能：

報警、差值/縮減率、zui大/zui小值。

穿透涂層大容量的技術(shù)參數(shù)

穿透涂層大容量的標(biāo)準(zhǔn)配置：

主機(jī)1臺

標(biāo)準(zhǔn)探頭1個

儀器箱1個

耦合劑1瓶

操作手冊1本

1.5AA堿性電池 2節(jié)

穿透涂層大容量的多種探頭可選：