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宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀

宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀

型    號:
報    價: 9900
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宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀,包含UM-5D的所有特性:回波-回波測量模式,穿透涂層測量,彩色實時A/B掃描,過零測量技術,可設置增益、消隱、閘門、范圍、延時、射頻、倒向射頻、正半波、負半波、全波、更新率、B掃描Z大/Z小值等多種參數(shù),耦合或報警時厚度值和波形顏色動態(tài)改變。增加大容量數(shù)據(jù)記錄器,包含通訊軟件及USB通訊電纜,標配TC510穿透涂層探頭。

宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀的詳細資料:

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的產(chǎn)品特點:

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀,包含UM-5D的所有特性,增加大容量數(shù)據(jù)記錄器(可存儲10萬個厚度值和1000幅波形),隨機包含通訊軟件及USB通訊電纜,標配TC510穿透涂層探頭。

如果你遇到了普通測厚儀不能解決的問題,請選擇UM-5D超聲波測厚儀AB掃描穿透涂層,它能zui大限度的解決各種測厚難題,為您提供高性價比的解決方案。

1.更大的存儲器、更方便的存儲功能:

可存儲100000個厚度值,是同檔產(chǎn)品的20至200倍;國內采用柵格式存儲文件,一屏可顯示15個厚度值,并同時顯示其在柵格中的位置,便于用戶瀏覽所存的厚度數(shù)據(jù);可存儲1000幅A或B掃描波形,波形和厚度值可在同一文件中混存;USB 2.0 全速(Full Speed)接口,功能強大的DataView數(shù)據(jù)統(tǒng)計及管理軟件。

2.具有穿透涂層功能,不再需要費時費力的去除涂層工作了:

我們之前在國內推出了具有穿透涂層技術的UM-1D測厚儀,現(xiàn)在UM-5DL同樣具備了這一*的功能。該功能是通過測量基材的兩個連續(xù)底面回波實現(xiàn)的。

該模式下還具有更多的優(yōu)勢:免零點校準;高穩(wěn)定性,測量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響;零漂移。

3.實時彩色A-掃描(Live Color A-Scan) :

用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型(A掃描),這對于需要驗證厚度讀數(shù)是否正確的場合是至關重要的。許多情況會引發(fā)錯誤的厚度讀數(shù)甚至無讀數(shù),根據(jù)波形能輕松找到問題所在,然后根據(jù)波形僅需對增益(GAIN)、消隱(BLANKING)、閘門(GATE)這三個參數(shù)做適當調整,就可得到正確的厚度讀數(shù)。波形的用處:根據(jù)波形驗證厚度讀數(shù);根據(jù)波形找到問題所在;根據(jù)波形尋求解決之道;根據(jù)波形調整參數(shù)解決問題。

4.增益調整(GAIN):

調整儀器對回波信號的放大倍數(shù)允許以ldB 為單位手動增加或減少。這個功能對聲衰減材料(比如金屬鑄件)的測量是非常有用的。

5.消隱功能(BLANKING):

使紅色消隱條范圍內的波形無效,可以略去影響測量的有害雜波,比如因材料表面粗糙或內部不均勻引起的噪聲。

6.閘門高度可調(GATE):

只有回波高于閘門時,儀器才認為接收到了回波,才會有測量值??梢婇l門高度可調的重要性,尤其是在應對低回波信號的應用中更是如此(比如超薄板、超厚板的測量)。

7.紅色箭頭:

A掃描模式有一個紅色箭頭指示測量點,厚度讀數(shù)就是該點的橫坐標,可幫助判斷厚度讀數(shù)是否正確,正確測量時紅箭頭應該指向*底面回波前沿。

8.范圍(RANGE):

調整顯示在屏幕上的波形范圍,視覺上波形被壓縮或展開。如果沒有正確的設置顯示范圍,回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到,但仍能正確地顯示測量值。

9.平移(DELAY):

調整顯示在屏幕上的波形的起始位置,視覺上波形被水平移動。

如果沒有正確的設置平移,回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到,但仍能正確地顯示測量值。范圍和平移功能可將波形的任何一部分放大顯示在屏幕上。

10.實時彩色B-掃描(Live ColorB-Scan) :

UM-5測厚儀帶時實B掃描功能。顯示沿著探頭移動軌跡的剖面圖,用于觀察被測工件的底面輪廓。并自動捕獲一幅B掃描圖像上的zui小值,由紅色三角指示出zui小值的位置。通過移動指針還可查看B掃描圖像上任一點的厚度值。

11.整流方式:

可選擇射頻、正半波、負半波、全波四種整流方式。 

射頻:描繪了完整的回波波形; 

正半波:指去掉回波的負半波只顯示正半波; 

負半波:指去掉回波的正半波而將負半波翻轉顯示為正;

全波: 指回波的正半波和翻轉為正的負半波均顯示。

12.更多實用的功能:

差值/縮減率:差值模式顯示實測厚度與預設厚度之間的差值變化。縮減率是計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比,典型應用時因彎曲而變薄的金屬材料進行測量。

zui大/zui小值捕獲:屏幕上同時顯示當前厚度值、zui小值和zui大厚度值。

報警模式:報警時動態(tài)改變厚度讀數(shù)顏色。

更新率4Hz、8Hz、16Hz可調:普通的應用可選擇4Hz,當需要快速掃查,比如高溫測量時可選更高的更新率。

多種語言界面可選:中文、英文、日文等。  

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的技術參數(shù):

1.測量范圍:

0.5至508毫米(0.02至20英寸),取決于所用探頭、材料、表面狀況和溫度。

2.單位和顯示分辨率:

毫米-0.01,0.1 英寸-0.001,0.01。

3.顯示模式:

厚度值模式;A-掃描波形模式;B-掃描波圖像模式;zui小/zui大值捕獲模式;差值/減薄率模式;V路徑修正;自動V聲程修正,補償雙晶探頭的非線性度。

4.示值誤差:

±0.05mm(25mm以下);±0.2%H(100mm以下);±0.5%H(100mm以上)。

注:H為被測物厚度。

5.重復性:±0.05mm。

6.顯示屏:320*240點陣,2.4寸真彩屏。

7.測量速率:4Hz,8Hz,16Hz可調。

8.聲速范圍:500~9999m/s,0.0197~0.3937in/us。

9.工作語言:中文、英文、日語(可選)。

10.電源:兩節(jié)1.5V  AA電池。

11.操作時間:兩節(jié)1.5V  AA電池,使用時間大于36小時。

12.自動關機:5分鐘,10分鐘,20分鐘無操作后自動關機或手動關機。

13.工作溫度:-10℃~+50℃,有特殊要求可達-20℃。

14.尺寸:153*76*37mm (H*W*D)。

15.重量:含電池280g。

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的標準配置:

測厚儀主機

標配探頭

儀器箱

兩節(jié)1.5V堿性電池

耦合劑

操作手冊

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的可選附件:

多種可供選擇的探頭;階梯試塊;耦合劑及高溫耦合劑。

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的多種探頭可選:

型號

PT08

TC510

PT12

PT06

PT04

ZT12

GT12

類型

UM-4標準

4D/4DL標配

標配

小徑管

指尖

粗晶(鑄鐵)

高溫

頻率

5MHz

5MHz

5MHz

7.5MHz

10MHz

2MHz

5MHz

接觸直徑

11mm

13.5mm

13.5mm

8mm

6mm

17mm

15mm

測量范圍

0.8-100mm

1.2-200mm

1-200mm

0.8-30mm

0.7-12mm

4-508mm

4-80mm

允許溫度

-10-70℃

-10-70℃

-10-70℃

-10-70℃

-10-70℃

-10-70℃

-20-300℃



 如果你對宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀感興趣,想了解更詳細的產(chǎn)品信息,填寫下表直接與廠家聯(lián)系:

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