總研DAC-IR-2C直讀式鐵損測(cè)試儀的詳細(xì)資料：

總研DAC-IR-2C直讀式鐵損測(cè)試儀

總研DAC-IR-2C直讀式鐵損測(cè)試儀的測(cè)試原理：

·將繞有激磁線(xiàn)圈和磁束檢出線(xiàn)U型磁鐵置于被測(cè)試樣上即開(kāi)成閉合磁路。

·如果該U型磁鐵的磁路斷面面積比試片內(nèi)磁路斷面面積大許多時(shí)，則激磁線(xiàn)圈加電壓時(shí)所產(chǎn)生的激磁電流與磁通檢出線(xiàn)圈上產(chǎn)生的電壓乘積即為試片內(nèi)之損耗。

·本測(cè)定器備有試片和測(cè)定用磁能密度選擇開(kāi)關(guān)，選擇、設(shè)定后，試片的鐵損值便可立即讀出。鐵損值可由此式得知：鐵損=試片內(nèi)損耗/試片內(nèi)磁路部分的有效重量。

的產(chǎn)品特點(diǎn)：

·，是和日本SOKEN公司雙方合作開(kāi)發(fā)的機(jī)種，擴(kuò)展了可任意調(diào)節(jié)測(cè)試試樣寬度和自校準(zhǔn)等功能,用于硅鋼片鐵損值的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。

·可廣泛使用在硅鋼片生產(chǎn)廠(chǎng)家、流通領(lǐng)域、馬達(dá)、變壓器及其他利用硅鋼片制造產(chǎn)品的品質(zhì)管理，包括出貨、進(jìn)貨和成品抽樣檢驗(yàn)，原材料及沖壓后成形的單片均可測(cè)試。

·主要應(yīng)用：硅鋼片的進(jìn)、出料試驗(yàn)；鍛燒過(guò)程中的品質(zhì)控制；矽鋼片的品質(zhì)管理等。

·重量輕、體積小，操作簡(jiǎn)單、方便。只用一片硅鋼片材料或沖壓成品便可直接讀出以W/kg形式表示的鐵損值，無(wú)需專(zhuān)門(mén)制作試樣。

·空置測(cè)試或無(wú)效測(cè)試自動(dòng)斷開(kāi)等保護(hù)功能；

·帶調(diào)節(jié)功能，利用標(biāo)準(zhǔn)板，可定期校準(zhǔn)儀器的精度；

·采用觸摸按鈕,操作簡(jiǎn)便；抗電源等外界干擾功能強(qiáng)；

·任意設(shè)定試品的寬度和厚度，適合各種形狀的單片測(cè)試；

·非破壞性測(cè)量方式，無(wú)需專(zhuān)門(mén)制作試品，直接讀取鐵損值；

·電磁鋼板 (硅鋼片)、取向和無(wú)取向、冷軋和熱軋鋼板及普通鐵板等均可使用。

的技術(shù)參數(shù)：

·測(cè)試范圍：0.10～19.99 W/kg；

·磁通密度：按測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)1.5T (無(wú)取向Non Oriented)；

1.7T (取向Oriented Grain) 兩檔切換；

·試樣厚度：0.10～0.99mm；

·試樣長(zhǎng)度：20mm以上；

·試樣寬度：zui小2mm；5mm以上保證設(shè)計(jì)精度，形狀不規(guī)則(非長(zhǎng)方形)的復(fù)雜沖壓片，可任意設(shè)定相近的有效寬度；

·測(cè)試精度：≤±5% (JIS Epstein方圈法比較)；

·測(cè)試頻率：50Hz；

·使用電源：AC110／220V (50Hz)；

·環(huán)境條件：保證精度范圍：15～35 ℃；使用溫度范圍：0～40 ℃；允許濕度范圍：35～85% (無(wú)露水)；

·主機(jī)尺寸：190*105*295mm(W*H*D)；

·重量：主機(jī)約4 Kg。

的標(biāo)準(zhǔn)配置：

·測(cè)試儀DAC-IR-2C主機(jī)…………1臺(tái)

·校正用標(biāo)準(zhǔn)鐵芯（S和G）……各1片（S無(wú)取向和G取向）

·標(biāo)準(zhǔn)探頭…………………………1個(gè)

·電源線(xiàn)（帶地線(xiàn)的三路電線(xiàn)）…1條

·探頭連接線(xiàn)………………………1條

·鋁合金收容箱……………………1只